Метрология и стандартизация, являясь важнейшими составляющими системы технического регулирования, должны быть в полной мере задействованы при создании наноиндустрии. Метрология дает возможность измерить параметры и характеристики процессов и объектов нанотехнологий с необходимой для практики точностью и гарантировать прослеживаемость единиц физических величин вплоть до государственного эталона по каждому виду измерений. Стандартизация позволяет пользоваться общепринятыми терминами и определениями и устанавливают оптимальные требования к объектам наноиндустрии и методы их испытаний.В книге впервые освещается место и роль стандартизации и метрологии при действиях с объектами, относящимися к нанодиапазону, формулируются проблемы и пути их решения в области стандартизации, оценки соответствия, информационно-технического обеспечения нанотехнологий и нанопродукции.

Издание будет интересно и полезно для ученых и специалистов, вовлеченных в процесс разработки, производства и применения нанотехнологий, наноматериалов и другой нанопродукции, а также создающих средства измерений и разрабатывающих нормативно-технические документы в области наноиндустрии.

ISBN 978-5-02-025339-1